82241374(检测)/82241365(产品)
销售中心
010-8224 1374
151 2009 6580
客户接待中心
010-82241353
微信公众平台
高分辨透射电子显微镜（JEM-2010/JEOL）
测量范围TEM放大倍数：50x～1.5Mx 样品台倾角：轴倾角约±20°
测量精度点分辨率：0.19nm晶格分辨率：0.14nm
检测特色这是一台高分辨透射电镜，可以对各种无机材料进行微区形貌、结构研究，设备可采集高质量的衍衬像（明场像、暗场像）、选区（或微区）电子衍射图像及局域晶格像。
场发射扫描电子显微镜（JSM-7001F/ JEOL）
测量范围放大倍数10~10万倍
测量精度放大倍数误差≤10%
检测特色配有EDAX EDS-EBSD一体化系统；可进行微区成分分析（线、面扫描）；可做取向、织构、再结晶比例、CSL晶界、孪晶，大小角度晶界、相鉴定分析，该系统的最大特点是可以同时获得同一区域的元素成分和晶体取向信息，弥补了以往利用扫描电镜在该应用的不足；可拍摄高分辨率电子通道衬度图像（ECCI）。
场发射透射电子显微镜（TECNAI G2 F20/FEI）
测量范围TEM放大倍数：最小25倍；最大 1,030,000倍 STEM放大倍数：150x - 230Mx 相机长度：最小≤ 30mm；最大≥ 4500mm 样品台倾角：倾斜角度：±40°；轴倾角：±30° 能谱可分析元素范围：B5-U92
测量精度点分辨率：0.24nm 晶格分辨率：0.102nm 信息分辨率：0.14nm 最小束斑尺寸：透射模式优于2nm，微区分析模式优于0.5nm
检测特色这是一台分析型热场发射透射电镜，除了可进行常规明暗场像、高分辨像、选区电子衍射操作外，还可以进行微区衍射、成分分析，采集样品高角环形暗场图像，设备还配有大面积电制冷能谱仪，其能量分辨率及计数率较高，有利于进行元素的线扫描分析、面扫描分析。
