82241374(检测)/82241365(产品)
销售中心
010-8224 1374
151 2009 6580
客户接待中心
010-82241353
微信公众平台
电感耦合等离子体原子发射光谱仪（725E型/ Agilent）
测量范围百分含量区间为10-3%~1x%
测量精度参考相关检测标准，通常含量在10-2%的RSD在5%左右。
检测特色元素化学成分定量分析。多元素（周期表中大多数元素）快速同时分析。
电感耦合等离子体质谱仪（7700x型/ Agilent）
测量范围0.x~xx mg/kg 或者表示为质量分数为10-5%~10-2%
测量精度参考相关检测标准，通常含量在x mg/kg的RSD在5%左右；同位素分析偏差在0.5%左右。
检测特色元素化学成分定量分析，元素同位素比例分析。可以测定含量低至0.x mg/kg或10-2%的元素含量；物质含量的半定量分析；元素同位素比例分析；多元素（周期表中大多数元素）快速同时分析。
0.00x~xmg/kg或百分含量区间为10-7%~10-4%
测量精度参考相关检测标准，通常含量在0.00x mg/kg的RSD在50%~100%左右。
检测特色元素化学成分分析和同位素比例分析，通常只能进行半定量分析。直接固体进样，可以测定含量低至0.00xmg/kg或10-7%的元素含量；可以进行金属表层逐层成分分析；低含量元素同位素比例分析；多元素（周期表中大多数元素）快速同时分析。
0.00x~0.xµg/kg或百分含量区间为10-10%~10-7%
测量精度参考相关检测标准，通常含量在0.00x µg/kg 的RSD在50%~100%左右。
检测特色单晶硅中Ⅲ，Ⅴ族元素测定。直接固体进样，可以测定单晶硅中Ⅲ，Ⅴ元素含量低至10-10%的元素含量。
