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: 马通达

职务副总经理
职称教授级高工
教育背景1999年毕业于中国科学院金属研究所获得硕士学位，2006年毕业于北京有色金属研究总院，获工学博士学位。
工作简历1999年入北京有色金属研究总院国家有色金属及电子材料分析检测中心从事材料微观结构与物理性能方面的应用基础研究至今。
研究方向电子显微学
主要科研项目与成果SOI衬底上SiGe异质结构的应变弛豫机制（国家自然科学基金）；科研用高纯无机试剂共性关键技术及核心单元物质研究开发(国家科技支撑计划)等
主要著作及重要学术文章、主编教材等Investigation of Si/SiGe/Si on bonded　silicon-on-insulator by triple-axis x-ray diffraction and synchrotron radiation double-crystal topography
获奖情况获欧洲材料学会青年科学家奖一项，中国有色金属工业科学技术一、二等奖各一项，院优秀博士论文奖一项

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